CH-8系列綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試； 操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)； 可滿足晶片測(cè)試、光電器件測(cè)試、PCB/IC測(cè)試、射頻測(cè)試、高壓大電流測(cè)試等
CH-12 綜合性分析探針臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
CT-6高低溫探針臺(tái)
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測(cè)試 采用密閉腔結(jié)構(gòu)，屏蔽外部電信干擾同時(shí)保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無(wú)結(jié)霜
CGO-高低溫真空探針臺(tái)
溫度范圍77K-675K(液氮)； 可應(yīng)用于真空及常規(guī)環(huán)境； 超高溫度分辨率； 特殊客制低溫系統(tǒng)； 具有極高穩(wěn)定性
CP200半自動(dòng)探針臺(tái)
CP200系列|200mm半自動(dòng)探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試 操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。 與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試。
0.5um精度探針座
適用于I-V/C-V/RF/亞微米級(jí)測(cè)試測(cè)試的定位器
0.7μm精度探針座
亞微米級(jí)測(cè)試
±1μm精度探針座
適用于I-V/C-V測(cè)試的微型定位器
10μm精度探針座
基礎(chǔ)I-V測(cè)試
RF探針座
RF探針座適宜配合高頻探針使用，我司CB-100以及CB-200均可做射頻探針座.
