探針臺(tái)系統(tǒng)剖析
探針臺(tái)系統(tǒng)分為手動(dòng)探針臺(tái)與自動(dòng)探針臺(tái)，以下我們主要分析手動(dòng)探針臺(tái)：
探針臺(tái)用途：
手動(dòng)探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量?jī)x器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。
探針臺(tái)系統(tǒng)組成：
探針臺(tái)臺(tái)體+顯微鏡+探針座+探針夾具+探針+測(cè)試源表（請(qǐng)注意無(wú)測(cè)試源表就構(gòu)成不了系統(tǒng)，探針臺(tái)只是提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，一切數(shù)據(jù)的測(cè)量都需要依靠測(cè)試源表來(lái)完成）
探針臺(tái)測(cè)試環(huán)境：
可提供的測(cè)試環(huán)境有：常溫、高溫、高低溫測(cè)試、真空高低溫、高壓、輻射以及磁場(chǎng)環(huán)境。
依靠探針臺(tái)能勝任的測(cè)試有：
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序號(hào) |
根據(jù)測(cè)試樣品分類 |
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序號(hào) |
根據(jù)應(yīng)用分類 |
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積分球測(cè)試 |
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