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探針的分類說(shuō)明 關(guān)于電學(xué)量測(cè)使用的探外地，一般分為以下幾大類，為您做詳細(xì)的說(shuō)明 一、概述： 測(cè)試針，是用于測(cè)試PCBA的一種探針，主要做為電學(xué)信號(hào)的輸入。 表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。 探針的材質(zhì)：W，ReW,A+ 1.目前主要采用的材質(zhì)為W，ReW,彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。 2.A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。 二、探針?lè)诸? 探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為： A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路、短路檢測(cè)探針； B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針； C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針； 三、探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。 懸臂