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探針臺(tái)系統(tǒng)剖析
探針臺(tái)系統(tǒng)分為手動(dòng)探針臺(tái)與自動(dòng)探針臺(tái)，以下我們主要分析手動(dòng)探針臺(tái)：
探針臺(tái)用途：
手動(dòng)探針臺(tái)又稱探針測(cè)試臺(tái)主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。
探針臺(tái)系統(tǒng)組成：
探針臺(tái)臺(tái)體+顯微鏡+探針座+探針夾具+探針+測(cè)試源表（請(qǐng)注意無測(cè)試源表就構(gòu)成不了系統(tǒng)，探針臺(tái)只是提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，一切數(shù)據(jù)的測(cè)量都需要依靠測(cè)試源表來完成）
探針臺(tái)測(cè)試環(huán)境：
可提供的測(cè)試環(huán)境有：常溫、高溫、高低溫測(cè)試、真空高低溫、高壓、輻射以及磁場(chǎng)環(huán)境。
2018-10-055173
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手動(dòng)探針臺(tái)的工作原理
手動(dòng)探針臺(tái)用途：
手動(dòng)探針臺(tái)的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測(cè)試提供一個(gè)測(cè)試平臺(tái)，探針臺(tái)可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個(gè)可調(diào)測(cè)試針以及探針座，配合測(cè)量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測(cè)。適用于對(duì)芯片進(jìn)行科研分析，抽查測(cè)試等用途。
手動(dòng)探針臺(tái)的使用方式：
1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
3.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。
4.顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。
2018-06-054967
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光學(xué)平臺(tái)，又稱光學(xué)面包板、光學(xué)桌面、科學(xué)桌面、實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，供水平、穩(wěn)定的臺(tái)面，一般平臺(tái)都需要進(jìn)行隔振等措施，保證其不受外界因素干擾，使科學(xué)實(shí)驗(yàn)正常進(jìn)行。目前來說，有主動(dòng)與被動(dòng)兩大類。而被動(dòng)又有橡膠與氣浮兩大類。
簡介
光學(xué)平臺(tái)追求水平，首先加工的時(shí)候整個(gè)臺(tái)面是極平的。之后臺(tái)面置放與四個(gè)聯(lián)通的氣囊上，以保證臺(tái)面水平。臺(tái)面上布滿成正方形排列的工程螺紋孔，用這些孔和相應(yīng)的螺絲可以固定光學(xué)元件。這樣，當(dāng)你完成光學(xué)設(shè)備的搭建，系統(tǒng)基本不會(huì)受外來擾動(dòng)而產(chǎn)生變化。即使按動(dòng)臺(tái)面，它也會(huì)因?yàn)闅饽叶詣?dòng)回復(fù)水平。
應(yīng)用
光學(xué)平臺(tái)廣泛應(yīng)用于光學(xué)、電子、精密機(jī)械制造、冶金、航天、航空、航海、精密化工和無損檢測(cè)等領(lǐng)域，以及其他機(jī)械行業(yè)的精密試驗(yàn)儀器、設(shè)備振動(dòng)隔離的關(guān)鍵裝置中。
主
2018-04-208151
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自動(dòng)平衡型氣浮防震桌的安裝手冊(cè)
1、常規(guī)配置
2、安裝前請(qǐng)注意以下幾點(diǎn)：
（1）避免陽光直射和較大的溫度變化
（2）只能使用壓縮空氣或者4Kgf/㎠以上壓力的氮?dú)?
（3）避免意外撞擊防震桌
3、安裝和調(diào)整
請(qǐng)按照以下順序安裝
（1）移動(dòng)和裝載
a、移動(dòng)蜂窩平臺(tái)和框架至要求安裝的地方
b、把蜂窩平臺(tái)放在框架上（調(diào)整蜂窩到框架的中心位置）
（2）調(diào)整框架的水平位置和裝載設(shè)備
a、擰松校平腳上的鎖緊螺母之后，用扳手（30mm）轉(zhuǎn)動(dòng)校平腳直到地面和輪腳之間的間距在5mm左右
b、通過旋轉(zhuǎn)校平腳使框架達(dá)到水平
c、框架調(diào)整至水平之后，擰緊鎖緊螺母
2016-10-135729
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探針臺(tái)的使用
1、將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關(guān)，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。
2、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。
3、使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動(dòng)卡盤平臺(tái)將樣品待測(cè)試點(diǎn)移動(dòng)至顯微鏡下。
4、顯微鏡切換為高倍率物鏡，在大倍率下找到待測(cè)點(diǎn)，再微調(diào)顯微鏡聚焦和樣品x-y，將影像調(diào)節(jié)清晰,帶測(cè)點(diǎn)在顯微鏡視場(chǎng)中心。
5、待測(cè)點(diǎn)位置確認(rèn)好后,再調(diào)節(jié)探針座的位置,將探針裝上后可眼觀先將探針移到接近待測(cè)點(diǎn)的位置旁邊,再使用探針座X-Y-Z三個(gè)微調(diào)旋鈕,慢慢的將探針移至被測(cè)點(diǎn),此時(shí)動(dòng)作要小心且緩慢，以防動(dòng)作過大誤傷芯片，當(dāng)探針針尖懸空于被測(cè)點(diǎn)上空時(shí)，可先用Y軸旋鈕將探針退后少許，再使用Z軸旋鈕進(jìn)行下針，最后則使用
2016-05-135229
